產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > KSV NIMA LB膜分析儀 >
產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
1. 專注于界面流變。 2. 可以將探針精準(zhǔn)定位在液液或者氣液界面上,即使在長(zhǎng)時(shí)間的實(shí)驗(yàn)或在單分子層薄膜擴(kuò)散等實(shí)驗(yàn)中,磁阱也能夠保證磁針的定位。磁阱的強(qiáng)度可以通過調(diào)整磁阱位置,靠近或者遠(yuǎn)離磁針來精確控制。這一控制模式也能夠?qū)我惶结樖┘痈鼘挼哪A亢皖l率范圍。 3. 動(dòng)態(tài)剪切模量低,輕巧的磁性探針在測(cè)試過程中能最小化儀器與探針的相互作用,實(shí)現(xiàn)高靈敏度測(cè)試。
KSV NIMA Langmuir和Langmuir-Blodgett膜分析儀用于制備和表征具有可控堆積密度的薄膜。當(dāng)我們需要以半連續(xù)的沉積程序來制備超大面積的薄膜時(shí),可以使用這種特殊的KSV NIMA roll to roll 柔性 LB膜制備系統(tǒng)。